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防静电挑战:“卷”出云终端防护新高度

锐捷IDV云桌面,医院信息化,云桌面技术

  • 发布时间:2024-08-15

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静电危机:极端环境下的防护难题

在进入医疗市场后的第一个冬季,西北地区的一家医院向我们反馈了一个问题:“我们买的云桌面,有几台USB 接口接连出现问题,没办法用了。”

我们即刻赶赴现场进行调查,了解到西北冬季的空气非常干燥,加之医院内部为抵御寒冷全力供暖,医生们进入房间时会脱下厚重的外套,紧接着插入认证 U 盘,这一连串的动作极易产生强烈的静电。医生们每天多次插拔认证 U 盘,历经几个月的反复操作后,USB 接口失灵,甚至导致整个芯片损坏,无法开机。 

静电危机:极端环境下的防护难题 

通常而言,硬件接口设计都会配置 ESD 保护器件,以对接口信号予以保护(如上图所示)。ESD保护器件会吸收静电的能量,保护后面的主芯片。然而在如此极端的环境之下,原本的 ESD 保护器件难以抵挡高能量静电的重复冲击。相同的场景,我们也对其他 PC 进行了对比验证,依旧存在 USB 接口失效的状况。面对这一挑战,我们决定迎难而上,解决这个问题。

解释:ESD保护器件是一种对电路信号进行起保护作用的芯片,在静电灌入的瞬间对高压进行吸收,保护后面的主芯片不被击穿。

 

困难重重:复现故障难倒众人

传统的ESD保护器件无法满足需求,寻找更具保护能力的ESD器件似乎才是解决之道。然而,方向看似明晰,实际操作起来却绝非易事……

为了找到故障的根源,我们首先需要准确复现故障情况。采用标准的ESD静电测试模型进行检测,锐捷的标准是设备需在“接触放电8kV”和“空气放电15kV”的条件下保持正常工作,不得失效。然而,尽管反复尝试,设备始终未能达到预期的USB端口损坏状态。无法模拟出实际故障环境,如何来验证对策有效性呢? 

ESD测试方法
静电判断标准
等级1
等级2
等级3
等级4
接触放电
2kV
4kV
6kV
8kV
空气放电
2kV
4kV
8kV
15kV

接触放电:ESD静电枪接触到的外壳情况下,进行ESD放电。

空气放电:ESD静电枪对ESD放电后靠近外壳,会出现空气放电的火花。

 

困难重重:复现故障难倒众人

 

冷静思考之后,我们回归到原理层面进行分析:静电放电,最终是能量作用在USB信号上,然后打坏主芯片;那静电枪直接对准USB信号线放电,相对于目前对外壳放电的方式,是不是能量会更强?

基于这样的构想,我们进行了实验,在测试了几次之后,果然出现了 USB 接口失效的情况。并且,我们发现静电电压等级越高,就越容易损坏。

终于,我们找到了复现故障的方法!

 

极限挑战:破坏性测试+苛刻指标

测试复现方法有了,那么测试到4kV还是8kV才能确保现场设备不再出现类似故障?没有历史经验可借鉴,也查询不到相关标准,这属于高度破坏性的测试,很少有厂商开展,只能靠我们自己摸索。

我们采购了一批设备,进行破坏性测试,尝试寻找这个指标。发现有些厂商为节约成本,连 ESD 保护器件都未上,1kV 都扛不住,也有的可以打到2kV,4kV,6kV,少部分设备可以测试到 8kV 。测试中还发现,被保护的主芯片抗静电能力差异也很大,部分能力强,而有些则较弱。在无法替换主芯片的情况下,我们只能寻找更强的ESD保护器件改善。

综合以上各种情况,我们设定了“打信号+8kV”的苛刻指标。

 

面临放弃:寻找芯片的坎坷之路

接下来,我们联系了国内外知名的 ESD 保护器件厂商,收到不少器件,然而实际测试效果却不尽如人意,大部分结果都低于4kV,离8kV还有较大的差距。

有厂商向我们推荐了一颗ESD保护器件,优点是触发保护的电压很低。虽然规格书没写可以保护USB,但我们测试效果很好,可以达到 8kV——这似乎让我们看到了胜利的曙光。但在更多测试时,小概率出现 USB 鼠标不可用的情况。深入研究后发现,在USB的信号上使用,由于保护电压太低,这颗 ESD 保护器件会出现闩锁现象(一直处于保护状态无法恢复),这个方案最终也只能宣告失败。

为进一步增强抗静电能力,我们曾考虑在 USB 信号线上串接电阻,大概能提升 0.5kV。但是兼容性变差,为避免牺牲兼容性,只好放弃串接电阻的想法。期间我们还找到了单体能力很强的 ESD 器件,可依然无法达到“信号测试 8kV”的指标。

那段时间,我们天天用静电枪测试,打坏了无数的板子!各种方案接连被否定,寻找芯片的道路似乎已走到尽头,难道我们只能选择放弃吗?

 

灵感闪现:跳出常规的新路径

在探索的迷雾中,团队中的一员突发奇想,提出了一个颠覆常规的思路:如果单个ESD保护器件不足以抵挡静电的冲击,那么是否双重保护——使用两个ESD器件——能够提供更强的防护能力?这个看似简单的想法,在当时却如同哥伦布的“竖鸡蛋”实验一般,开启了一条全新的路径。当我们实施了这个创新方案,进行了第二轮的打板测试,结果令人振奋——不仅顺利达到了8kV的严苛标准,甚至在12kV的高压下也表现出了卓越的稳定性。

于是我们采纳了双ESD的USB接口设计,并且一直沿用下来,近几年我们再也没有遇到USB接口损坏的问题!

然而故事到这里还没结束——

 

灵感闪现:跳出常规的新路径

 

继续卷自己:全口都要高标准,不容妥协!

在USB接口信号测试取得满意成果之后,我们的脚步并未停止。我们深知,其他接口在面临极端情况时,同样存在着损坏的风险。

为了确保每一个接口都能达到更高的标准,我们还开发了“静电信号接口测试板”,把所有的插接信号引到外部,以方便使用静电枪进行测试。我们将所有测试指标统一提升至8kV,并将其纳入锐捷云桌面产品的标准测试流程之中

 

静电信号接口测试板

 

这种信号测试在行业内并无统一的标准,许多厂商甚至未曾进行此类测试,在锐捷这已经变成我们的基本测试项目——因为锐捷是“以用户需求为导向”做设计。即使这意味着增加成本,我们也愿意为了向客户提供高品质的产品而努力。我们坚信:只有不断挑战自我,才能铸就卓越。

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